ซอฟต์แวร์ ตรวจสอบ 3DInspect 3.1 สำหรับ เซ็นเซอร์ 3D

Micro-Epsilon ได้เปิดตัวเวอร์ชัน 3.1 ของโซลูชันซอฟต์แวร์ 3DInspect ซึ่งออกแบบมาสำหรับการประเมินและการกำหนดค่าเซ็นเซอร์ 3D การอัปเดตทางเทคนิคนี้มีเป้าหมายเพื่อจัดโครงสร้างการผสานรวมอุปกรณ์วัดและเพิ่มประสิทธิภาพการประมวลผลข้อมูลเรขาคณิตภายในสภาพแวดล้อมการตรวจสอบทางอุตสาหกรรม

ความเข้ากันได้ของฮาร์ดแวร์และการผสานรวมเซ็นเซอร์
ซอฟต์แวร์รองรับโซลูชันฮาร์ดแวร์ที่หลากหลาย รวมถึงระบบ reflectCONTROL RCS, surfaceCONTROL 3D และ scanCONTROL 30xx เวอร์ชัน 3.1 ผสานรวมการสนับสนุนแบบเนทีฟสำหรับเลเซอร์สแกนเนอร์ scanCONTROL 8x00 SMART ทั้งในโหมด 2D และ 3D รวมถึงตัวช่วยกำหนดค่าเฉพาะ นอกจากนี้ สถาปัตยกรรมซอฟต์แวร์ยังเข้ากันได้กับ 3D Profile Unit ผ่านอินเทอร์เฟซมาตรฐาน GenICam และ GigE Vision

การประมวลผลข้อมูลและโปรแกรมการวัด
สำหรับแอปพลิเคชันมาตรวิทยา ระบบได้ผสานรวมอัลกอริทึมการวัด 3D ใหม่ ซึ่งช่วยให้สามารถประเมินพารามิเตอร์โครงสร้าง เช่น ความเรียบ ความกลม และการสกัดรู การประมวลผลแบบสองมิติได้รับการเสริมด้วยฟังก์ชันวิเคราะห์ความตรง 2D โครงสร้างพื้นฐานของซอฟต์แวร์ดำเนินการปฏิบัติการที่ซับซ้อน เช่น การสร้างและการผสานพอยต์คลาวด์ การลดตัวอย่าง (downsampling) ตลอดจนการกรองและการทำมาสก์ภาพ สำหรับเซ็นเซอร์ reflectCONTROL และ surfaceCONTROL รูปแบบข้อมูลใหม่ช่วยให้สามารถประเมินภาพแอมพลิจูด ความโค้ง และความเข้มพื้นฐานได้

การเพิ่มประสิทธิภาพเวิร์กโฟลว์การปฏิบัติงาน
สถาปัตยกรรมประมวลผลได้รับการปรับปรุงใหม่เพื่อเร่งการทำงานของโปรแกรมการวัดทางอุตสาหกรรมตามลำดับ การปรับเปลี่ยนการดำเนินงานรวมถึงการขยายโหมดการสังเกต การบันทึกอัตโนมัติพร้อมกันของรูปแบบข้อมูลหลายรูปแบบต่อการวัดหนึ่งครั้ง และความสามารถในการขัดจังหวะการเก็บข้อมูล 3D ที่กำลังดำเนินการอยู่ก่อนกำหนด การปรับโครงสร้างโปรแกรมการประมวลผลล่วงหน้าและการเพิ่มประสิทธิภาพการแสดงผลกราฟิก 2D และ 3D ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการจัดการเวิร์กโฟลว์การตรวจสอบทั้งหมดที่ราบรื่นยิ่งขึ้น

แก้ไขโดย Maria Brueva บรรณาธิการของ Induportals – ดัดแปลงโดย AI.

www.micro-epsilon.com